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芯片AOI檢測設(shè)備主要用于實現(xiàn)半導(dǎo)體芯片的外觀缺陷檢測，AOI視覺系統(tǒng)識別每款芯片規(guī)格，便于人工防呆且針對不同芯片的IC進行外觀缺陷檢測及測量。
技術(shù)參數(shù):
全自動檢測系統(tǒng)，自動上下料
效率: UPH約2200pcs/h(與產(chǎn)品工藝參數(shù)和材料有關(guān))
檢測項目：異物、臟污、劃傷、溢膠、群集性污染等
產(chǎn)品應(yīng)用：
模組芯片等產(chǎn)品檢測工藝
適合量產(chǎn)
